SWTest - Conferência de Teste de Wafer Semicondutor 2027

SWTest - Semiconductor Wafer Test Conference Carlsbad 2027
De Julho 07, 2027 até Julho 09, 2027
(Por favor, verifique novamente as datas e localização abaixo com o organizador antes de participar.)

A Semicondutor Wafer Test Conference (SWTest) é o único evento da indústria de longo prazo focado em todos os aspectos da microeletrônica wafer e testes de nível de dados. A edição 2027 vai de segunda-feira, 7 de junho a quarta-feira, 9 de junho no Omni La Costa Resort & Spa em Carlsbad, Califórnia.

O programa é uma abertura técnica de dois dias e meio com uma tônica de segunda-feira, seguida de sessões orientadas para o tema, apresentações de cartazes durante as pausas e um andar de exposição. Atividades sociais, redes informais e um torneio de golfe de domingo opcional complementam as apresentações de fabricantes e fornecedores.

A SWTest tem sido realizada há mais de 35 anos e está organizada como um fórum de tecnologia de sonda onde os participantes trocam ideias sobre os recentes desenvolvimentos da indústria. As inscrições para a conferência de 2027 deverão ser abertas online em fevereiro de 2027; o site oficial publica informações de programa, hotel e expositor para a reunião de Carlsbad.


Se inscreva para entrada ou estandes

Por favor, inscreva-se no site organizador da SWTest - Semicondutor Wafer Test Conference

Mapa do Local e Hotéis nas Redondezas

Carlsbad – Omni La Costa Resort & Spa, Califórnia, Estados Unidos